1、有源器件：有源器件包括光源、光檢測器和光放大器，這些器件是光發(fā)射機(jī)、光接收機(jī)和光中繼器的關(guān)鍵器件，和光纖一起決定著基本光纖傳輸系統(tǒng)的水平。
2、光無源器件：光無源器件主要有連接器、光纖準(zhǔn)直器、耦合器、波分復(fù)用器/解復(fù)用器、光隔離器、光環(huán)形器、光開關(guān)、光濾波器、光衰減器等。

GB/T 33768-2017 通信用光電子器件可靠性試驗(yàn)方法
GB/T 21194通信設(shè)備用的光電子器件的可靠性通用要求
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.16-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J及導(dǎo)則：長霉
GB/T 2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka：鹽霧
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
GB/T 2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 實(shí)驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T 2423.57-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2-81部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ei：沖擊 沖擊響應(yīng)譜合成
GB/T 2423.58-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fi：振動(dòng) 混合模式
GB/T 2423.60-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)U：引出端及整體安裝件強(qiáng)度
GB/T 2424.2-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T 2424.26-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第3部分：支持文件和導(dǎo)則 振動(dòng)試驗(yàn)選擇
GB/T 29309-2012 電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗(yàn)規(guī)程 高加速壽命試驗(yàn)導(dǎo)則

我國近些年來也加強(qiáng)了對通信事業(yè)發(fā)展的研究，也取得了一定的發(fā)展成效，尤其是光電子器件在光纖通信中的應(yīng)用發(fā)揮了很大的作用。光電子器件在光纖通信中的應(yīng)用，一方面提高了通信的速度，另一方面也產(chǎn)生了更大的經(jīng)濟(jì)效益，將通信行業(yè)帶入了一個(gè)新的發(fā)展時(shí)代。
健明迪檢測可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸橥ㄐ庞霉怆娮悠骷峁I(yè)的機(jī)械沖擊試驗(yàn)、變頻振動(dòng)試驗(yàn)、高溫貯存試驗(yàn)、低溫貯存試驗(yàn)等環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。

機(jī)械完整性試驗(yàn)：機(jī)械沖擊試驗(yàn)、變頻振動(dòng)試驗(yàn)、熱沖擊試驗(yàn)、光纖扭力試驗(yàn)、光纖側(cè)向拉力試驗(yàn)、光纖拉力試驗(yàn)、引腳牢固性試驗(yàn)、連接器插拔耐久性試驗(yàn)、受力傳輸試驗(yàn)
環(huán)境試驗(yàn)：高溫貯存試驗(yàn)、低溫貯存試驗(yàn)、溫度循環(huán)試驗(yàn)、恒定濕熱試驗(yàn)、抗潮濕循環(huán)試驗(yàn)、高溫壽命試驗(yàn) 物理特性試驗(yàn)：密封性試驗(yàn)、芯片剪切力試驗(yàn)、可焊性試驗(yàn)、引線鍵合強(qiáng)度試驗(yàn)、可燃性試驗(yàn)