GB/T 10263-2006 核輻射探測器環(huán)境條件與試驗方法
GB/T 2423.21-2008 電工電子產品環(huán)境試程 第2部分：試驗方法 試驗M：低氣壓
GB/T 2423.63-2019 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（混合模式）綜合
GB/T 2423.102-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合

氣壓試驗分為高氣壓試驗和低氣壓試驗，用來確定探測器在低氣壓或高氣壓下使用的適應性。核輻射探測器過高或過低氣壓環(huán)境中，產品的性能容易出現(xiàn)下降或運行不穩(wěn)定等現(xiàn)象。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種核輻射探測器的環(huán)境試驗能力，為核輻射探測器產品提供專業(yè)的低氣壓試驗、高氣壓試驗等環(huán)境試驗服務。

健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種核輻射探測器的環(huán)境試驗能力，為核輻射探測器產品提供專業(yè)的低氣壓試驗、高氣壓試驗等環(huán)境試驗服務。

低氣壓試驗：
試驗時，試驗樣品處于非工作狀態(tài)。將經過預處理的試驗樣品放入正常大氣條件下的試驗箱內，然后將試驗箱內的氣壓降至規(guī)定的氣壓值，在該條件下暴露規(guī)定的持續(xù)時間。 本試驗氣壓調節(jié)的平均速率不宜超過10 kPa/ min 。
高氣壓試驗：
試驗時，試驗樣品處于非工作狀態(tài)。將經過預處理的試驗樣品放入正常大氣條件下的試驗箱內，然后將試驗箱內的氣壓以規(guī)定的平均速率升至規(guī)定的氣壓值，在該條件下暴露規(guī)定的持續(xù)時間。